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型号:Model 6400
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X射线检测仪

型号:VertexII
由美国VJ公司设计制造

美国VJ公司在X光检测领域具有近30年的历史,具有多年产品研发和制造经验。美国VJ公司长期致力于工业CT检测领域和标准的VERTEX系列X光检测领域,它不仅能够应用在各种机械结构部件中的检测,而且也广泛应用在电子制造行业对半导体器件和电路板的检测。

美国VJ公司VERTEX系列X光检测系统分为A-75、A-90、A-130和A-150四款标准机型。该系列高解像度X光检测系统具有先进的图像处理功能,它不仅能够捕捉实时的动态图像,还可以通过一系列先进的缺陷增强分析技术,能够强化检测部位与其它部位的图像对比,极大地提高了图像的清晰度,有效地改善了图像的质量,更加方便了用户对检测故障的判别。

A-130高解像度X光实时检测系统配置简单灵活,长期免维护,具有高分辨能力。 它装备有四至五轴的小型夹具和可承受重达五磅的大样品夹具,被测产品可进行旋转和倾斜。步进电机驱动使系统既具有在高放大率时低速稳定运动的能力,又可以快速行进较长距离。所有样本的移动不但可以由手动操纵杆单元控制,而且也可通过电脑编程来实现。检测过程可以利用鼠标进行图形化点击。另外系统具有未来可升级CT(断层扫描)选项。 A-130 高解像度X光实时检测系统定位应用于小型结构部件的无损检测、电装电路板和半导体封装厂做质量判别或工艺分析,可以帮助用户降低生产成本和提高产品质量。

设备检测范围:

  • 小型机械结构部件检测
  • 电缆及电缆接头检测
  • BGA/倒装芯片(Flip Chip)检测
  • IC封闭检测
  • PCB板焊接检测
  • 电容、电阻、通孔透锡检测
  • 陶瓷混合电路
  • 芯片的绑定线检测
  • 短路、开路、冷焊、空洞的检测
  • 传感器等配件的内部透视
  • 电热管、锂电池等内部透视